Дебай-Шеррер методу
Дебай-Шеррер методу – рентген нурунун дифракциясынын жардамы менен поликристаллдык материалдарды изилдөө.
1916-ж. голл. П.Дебай жана швейц. физик П. Шеррер сунушташкан. Цилиндр формасындагы камеранын ички бетине рентген фотоплёнкасы жайгаштырылат. Поликристаллдык үлгү же анын күкүмү камеранын борборуна орноштурулат (сүрөттү кара). Монохроматикалык рентген нурунун ичке агымы үлгүдөн өтүп дифракцияланып, анан фотопленкага түшөт. Брегг-Вульф шарттына ылайык, ар кайсы кристалл тегиздиктеринен нурлар ар кандай бурчтар боюнча дифракцияланышат жана фотоплёнкада симметриялуу жайгашкан дифракция сызыктарынан турган сүрөттөлүштү дебаеграмманы пайда кылат. Дебай-Шеррер методу техникада, физикада, химияда, геологияда кеңири колдонулат.
Колдонулган адабияттар
[түзөтүү | булагын түзөтүү]- Мамлекеттик тил жана энциклопедия борбору. Физика. Энциклопедиялык окуу куралы. 2004 Бишкек. ISBN 9967-14-010-0